【事業内容】横浜・実績
1992年～
- 予備校用過去出題問題集データベース構築
- 受光素子半導体検査装置制御システム
- CCDカメラ受光性能検査装置システム
1995年～
- 光学系分光照射装置システム設計制作
- ハワイ島マウナケア山頂の「すばる」天文台用シミュレータシステム制作
- セラミックコンデンサ製造装置制御システム設計制作
- セラミックフィルター製造装置制御システム設計制作
- X線露光装置システム設計制作
- ウェハ露光装置の周辺機器、調整ソフトウェア設計、制作
- 一眼レフカメラ基板検査システム設計、制作
- 赤外線カメラ画像解析システム設計、制作
- ウェハ・レジスト評価/検査システム設計、制作
- EBウェハ測定装置設計、制作
- リニアモーター実験用ソフトウェア設計、制作
2001年～
- EB制御システム設計制作
- 露光装置システム設計制作
- 300mウェハEB検査装置設計制作
- 微細化ウェハ・アライメント・ソフトウェア設計、制作
- 微細化ウェハ用ビッグ・データ解析ソフトウェア設計、制作
2008年～
- 微細化ウェハ計測装置コンサルティング
- 半導体工場微細化向け、半導体製造装置、検査装置等、
約60機種のEquipment Interface(MESと装置間I/F)対応 - 半導体工場後工程歩留まり管理システム設計制作
- EES大容量データ解析ツール設計制作
- ファブ・シミュレータ、エミュレータ設計制作
- The DAIHON ソフトウェア 提供
2014年～
- 大容量データ解析システム、Barbarella 提供
- SEMIジャパンより、 テクニカル・コミッティー賞を受賞
- 半導体製造装置用EFEM（ウェハ搬送機器ユニット）制御システム、Ophiuchusシステム制作
- ビッグデータ解析システム「Barbarella」アジアのファブに納品
- 精密部品製造工程ビッグデータの設計制作、「Barbarella」採用